RC3175/RC2175
Low-e膜層四點(diǎn)電阻測(cè)試儀
RC2175 | RC3175 | 單位 | |
量程 | 0-1999 | 0-199.9 | Ohms/square |
讀數(shù) | 1 | 0.1 | |
精度 | 3% | 0.9% |
國(guó)家玻璃質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心
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